圖4和圖5是電子探針測量的待測的2個浮法玻璃樣品的滲錫深度曲線，圖中的“+”代表實驗點，曲線為理論計算曲線，根據此理論曲線即可得到樣品的滲錫量，即表1中最后1列數據，這測量值有一范圍，原因是理論曲線和實驗曲線的擬合時，有一調整范圍。表1的第1列中L和H分別代表低溫和高溫熱處理樣品；第2列為相應樣品的彩虹參數測量值；第3列為低溫和高溫標準曲線得到的滲錫量；第4列為3次滲錫量測量值的平均及其標準偏差，括號中代表相當標準偏差。
從表1可以看出，滲錫量的光學測量值與電子探針測量值是符合的，但稍稍偏高，原因是浮法玻璃的滲錫深度曲線不是平滑遞降的理論曲線，而是帶有衛星峰的曲線[6] ，平滑遞降的理論曲線下的面積總是小于實驗曲線下的面積，而理論曲線下的面積就是滲錫量的電子探針測量值[1,2,5] ，即滲錫量的電子探針測量值比真實值低。光學法就沒有這問題，玻璃中有多少錫離子，彩虹參數中就包含多少二價錫離子的貢獻，這就是光學法測量值稍高于電子探針法測量值的原因。
四 結論
本文實驗證實，浮法玻璃的彩虹參數和滲錫量之間存在直線關系；實驗也證實，利用這直線關系和彩虹參數的測量值就可以得到浮法玻璃的滲錫量。
本文建立浮法玻璃滲錫量的光學測量方法：
測量范圍：
（1） 770℃高溫處理為（0.05～0.3）g/㎡；
（2） 750℃低溫處理為（0.3～0.6）g/㎡。
測量精度：相對標準偏差不大于?2.2%。
1. 參考文獻
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